蛍光X線分析装置【平成22年度先端技術実証・評価設備整備費等補助金】
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蛍光X線分析装置【平成22年度先端技術実証・評価設備整備費等補助金】
| 装置名 | 蛍光X線分析装置【平成22年度先端技術実証・評価設備整備費等補助金】 |
|---|---|
| メーカー名 | （株）リガク |
| 形式 | ZSX-400 |
| 導入年度 | 2011年度 |
| 貸付料 | － |
| 依頼試験手数料 | 28,100円／1測定 （2019年10月1日以降） |
仕様
X線光源：Rhターゲット4kW分光系：波長分散型
分析対象元素：Be～U
試料サイズ：最大40mmφ
概要
X線を照射した試料表面から出てくる特性X線を検出することによって元素の定性・定量分析を行います。波長分散型でBeからUまでの元素の分析を行うことができます。※平成22年度先端技術実証・評価設備整備等補助金による整備機器（科学技術交流財団との共同事業）。
設置機関
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室測定事例
－試験・分析材料
有機物、金属、セラミックス、複合材料、繊維、プラスチック、高分子試験・分析内容
定量・定性分析お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室電話：0561-76-8315
