マイクロフォーカスX線CT装置【平成22年度先端技術実証・評価設備整備費等補助金】

仕様

・X線源：LaB6フィラメント　焦点0.4μm
・平面CT装置
・3次元構造解析ソフト

概要

X線を電子部品や複合材料などに当てて、透過したX線を観察する装置。X線の透過量は試料の組成によって変わるため、試料の内部構造を反映した画像が得られる。また、得られた画像をコンピュータ処理することにより、３次元グラフィックスを構成することもできる。部品の欠陥や複合材料の分散状態などを調べるために使用できる。
※平成22年度先端技術実証・評価設備整備等補助金による整備機器（科学技術交流財団との共同事業）。

設置機関

あいち産業科学技術総合センター　技術支援部　計測分析室

測定事例

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試験・分析材料

金属、複合材料、プラスチック、木材・紙、有機物、食品、セラミックス、繊維、電気・電子

試験・分析内容

構造解析

お問い合わせ先

あいち産業科学技術総合センター　技術支援部　計測分析室
電話：0561-76-8315