飛行時間型二次イオン質量分析装置
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飛行時間型二次イオン質量分析装置
| 装置名 | 飛行時間型二次イオン質量分析装置 |
|---|---|
| メーカー名 | アルバックファイ株式会社 |
| 形式 | PHI TRIFTⅤ nanoTOF |
| 導入年度 | 2011年度 |
| 貸付料 | － |
| 依頼試験手数料 | 44,600円～／1測定 （2019年10月1日以降） |
仕様
【質量分解能M/Δm】11,500以上（無機材料）、10,000以上（有機材料）
【搭載イオン銃】
Bi液体金属イオン(30kV)、C60イオン（10kV)、Ar/Oxイオン(5kV)、Csイオン(10kV)
【最小ビーム径】
90nm（Bi液体金属イオン使用時）
概要
無機物、有機物に関わらず表面分子の質量数を知ることができる。設置機関
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室測定事例
－試験・分析材料
有機物 複合材料 プラスチック 高分子 セラミックス試験・分析内容
構造解析 表面分析お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室電話：0561-76-8315
