小角X線散乱測定装置
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小角X線散乱測定装置
| 装置名 | 小角X線散乱測定装置 |
|---|---|
| メーカー名 | ブルカー・エイエックスエス（株） |
| 形式 | NanoStar |
| 導入年度 | 2012年度 |
| 貸付料 | － |
| 依頼試験手数料 | 28,100円／1測定 （2019年10月1日以降） |
仕様
X線光源： 回転対陰極型 出力2.5kW Cu-Kα光学系： ３ピンホールタイプ（小角分解能125nm）
試料台： 透過配置用試料台、斜入射反射配置試料台、試料温度制御装置（室温～300℃）
概要
有機材料、無機材料及び複合材料等を試料とし、それらにX線を照射した際に出てくる散乱X線を観測する。散乱X線には試料中の数十nm～100nm程度の大きさの構造に関する情報が含まれており、形状やサイズによる材料の性質や機能の違いを検討することができる。設置機関
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室測定事例
－試験・分析材料
有機物、金属、セラミックス、複合材料、繊維、プラスチック、高分子試験・分析内容
構造解析お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室電話：0561-76-8315
