電界放出型透過電子顕微鏡
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電界放出型透過電子顕微鏡
| 装置名 | 電界放出型透過電子顕微鏡 |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子株式会社 |
| 形式 | JEM-2100F |
| 導入年度 | 2011年度 |
| 貸付料 | － |
| 依頼試験手数料 | 観察：44,600円～／1測定 （組成分析を行った場合は、観察料金に加えて別途15,400円／1測定） （2019年10月1日以降） |
仕様
加速電圧：200 kV分解能：0.19 nm（粒子像） 0.1 nm（格子像）
倍率：×2,000～1,500,000(MAG)
観察：透過電子像（Gatan社製 Ultrascan，OriusSC200D）、
走査透過電子像
分析：エネルギー分散型Ｘ線分析（日本電子㈱製 JED-2300T）
アクティブ除振台、アクティブ磁場キャンセラー装備
概要
ナノスケールでの像観察や電子線回折図形の取得ができます。また、EDSを搭載し、ナノオーダーの元素分析ができます。さらに、FIBによるTEM観察試料作製にも対応しています。
設置機関
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室測定事例
－試験・分析材料
金属、セラミックス、複合材料試験・分析内容
顕微鏡観察、定量・定性分析、構造解析お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室電話：0561-76-8315
