マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置
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マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置
| 装置名 | マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析装置 |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子株式会社 |
| 形式 | JMS-S3000 |
| 導入年度 | 2011年度 |
| 貸付料 | － |
| 依頼試験手数料 | 28,100円～／1測定 （2019年10月1日以降） |
仕様
MALDI-TOF基本体（SpiralTOF）+TOF-TOFオプション+リニアTOFオプション質量分解能 ＞60,000(FWHM)
質量測定範囲 m/z 10 ~ 200,000
質量精度 1ppm
感度 ＜500amol
概要
試料をマトリックス支援レーザー脱離イオン化法でイオン化し、イオンの質量電荷比(m/z)を精密に測定することで、試料の分子量や元素組成を調べる装置。低分子化合物から高分子化合物まで測定でき、食品分野や医薬品分野、合成高分子など様々な分野に用いられる。設置機関
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室測定事例
－試験・分析材料
有機物 プラスチック 繊維 高分子 セラミックス試験・分析内容
構造解析 定量・定性分析お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室電話：0561-76-8315
