分析走査電子顕微鏡【2024年度JKA補助事業】
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分析走査電子顕微鏡【2024年度JKA補助事業】
| 装置名 | 分析走査電子顕微鏡【2024年度JKA補助事業】 |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子（株） |
| 形式 | JSM-IT710HR |
| 導入年度 | 2024年度 |
| 貸付料 | － |
| 依頼試験手数料 | 顕微鏡観察：18,000円/1測定 EDS分析：23,900円/1測定 |
仕様
電子銃：ショットキー電界放出電子銃加速電圧：0.5kV～30kV
写真倍率：5倍～600,000倍
観察モード：高真空モード、低真空モード
検出器；二次電子検出器、反射電子検出器、低真空ハイブリッド二次電子検出器
試料移動範囲：X 125mm、Y 100mm、Z 80mm
概要
試料表面の微細構造の観察やミクロな領域でピンポイントの元素分析、元素マッピングが可能です。低真空観察機能、大型試料室を搭載しており、様々な試料の観察・分析に対応しています。設置機関
あいち産業科学技術総合センター 産業技術センター 金属材料室測定事例
－試験・分析材料
金属、複合材料、プラスチック試験・分析内容
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