走査型電子顕微鏡+エネルギー分散型X線分析装置
試験研究機器検索
走査型電子顕微鏡+エネルギー分散型X線分析装置
| 装置名 | 走査型電子顕微鏡+エネルギー分散型X線分析装置 |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子株式会社 |
| 形式 | JSM-6510A |
| 導入年度 | 2011 |
| 貸付料 | － |
| 依頼試験手数料 | 電顕：18,000円/1測定 X線(EDX)：23,900円/1測定 （2019年10月1日以降） |
仕様
最高倍率：30万倍検出可能元素：B～U
概要
試料の外観を拡大して観察します。金属材料をはじめとした各種材料の破断面観察によく用いられます。試料外観の観察の他、エネルギー分散型X線分析(EDX)により、試料表面に付着した異物等の成分分析が可能です。設置機関
あいち産業科学技術総合センター 産業技術センター 金属材料室測定事例
－試験・分析材料
金属試験・分析内容
顕微鏡観察お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 産業技術センター 金属材料室電話：0566-45-5645
