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試験・分析・測定業務 > 試験研究機器検索 > 原子間力顕微鏡


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原子間力顕微鏡

外観写真
装置名 原子間力顕微鏡
メーカー名 パークシステムズ
形式 XE-100-ASN
導入年度 2009年度
貸付料 -
依頼試験手数料 4,200円~17,100円/1測定

仕様

Z方向分解能 0.01nm
モード:ノンコンタクト、コンタクト、タッピング 大気中、液体中で測定可能
走査範囲(XY方向):100μm

概要

微小領域の三次元表面形状を探針のスキャニングによって極めて高精度に測定できる。主に非接触で測定を行うため試料損傷は少ない。本装置は液体中での測定にも対応できるのため、無機・有機・バイオ材料など幅広い用途の材料評価が可能である。
測定事例:ナノ粒子の粒子径、形状、DVDディスクの溝深さ
測定分野:ナノ材料の三次元形状測定

設置機関

あいち産業科学技術総合センター 産業技術センター 自動車・機械技術室

測定事例

-

試験・分析材料

金属、複合材料、プラスチック、高分子、木材・紙、有機物、セラミックス、電気・電子

試験・分析内容

構造解析、表面分析、定量・定性分析、顕微鏡観察、長さ・角度・形状、摩擦・磨耗、粗さ、粒度

お問い合わせ先

あいち産業科学技術総合センター 産業技術センター 自動車・機械技術室
電話:0566-45-6904

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