ICP発光分析装置

試験研究機器検索
ICP発光分析装置

装置名 | ICP発光分析装置 |
---|---|
メーカー名 | (株)日立ハイテクサイエンス |
形式 | SPECTRO ARCOS EOP |
導入年度 | 2012年度 |
貸付料 | - |
依頼試験手数料 | 15,400円/1測定(定性分析) (定量分析を行った場合は、定性分析料金に加えて別途5,200円/1元素) (2019年10月1日以降) |
仕様
・パッシェンルンゲ リニアCCD分光器測定波長範囲: 130~770nm(ハロゲン元素分析可能)
・プラズマ観測方向: 軸方向(高感度)
・レーザーアブレーション装置との結合: 固体の局所分析(別途試料調整料金が必要)
・マイクロウェーブ試料前処理装置(別途試料調整料金が必要)
概要
数千度のプラズマ中で原子やイオンを励起・発光させ、そのスペクトルを測定することによって、試料中の元素組成を調べる装置です。溶液化試料や、固体のミクロンオーダーの局所にレーザーを照射することによって微粉化した試料を用います。金属、半導体、セラミックス、油など、多種の試料中のppmオーダー以下の微量成分の定性、定量分析に適しています。設置機関
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室測定事例
-試験・分析材料
金属、半導体、無機物、複合材料、セラミックス試験・分析内容
定量分析、定性分析、元素組成お問い合わせ先
あいち産業科学技術総合センター 技術支援部 計測分析室電話:0561-76-8315