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試験・分析・測定業務
依頼試験の項目・料金

※料金には消費税が含まれています。

2022年6月20日から適用

計測分析機器

区分単位金額（円）備考
透過電子顕微鏡（TEM）観察 1測定 44,600  

透過電子顕微鏡（TEM）組成分析・化学状態

 1測定 15,400 観察のほかに組成分析等を行った場合にあらたに必要な金額です。
高分解能走査電子顕微鏡（SEM）観察 1測定 28,100  

高分解能走査電子顕微鏡（SEM）組成分析・構造分析

 1測定 15,400 観察のほかに組成分析等を行った場合にあらたに必要な金額です。
走査型プローブ顕微鏡（SPM） 1測定 15,400  
電子プローブマイクロ分析（EPMA） 1測定 28,100  
オージェ電子分光（AES） 1測定 28,100  
X線光電子分光（XPS） 1測定 28,100  
二次イオン質量分析（TOF-SIMS） 1測定 44,600  
多軸X線回折（XRD） 1測定 28,100  
小角X線散乱測定（SAXS） 1測定 28,100  
マイクロフォーカスX線CT（μCT） 1測定 28,100  
３次元X線顕微鏡（3DXRM） 1測定 44,600  
波長分散型蛍光X線分析（XRF） 1測定 28,100  
マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析（MALDI-TOFMS） 1測定 28,100  
液体クロマトグラフ飛行時間型質量分析（LC-MS） 1測定 28,100  
ガスクロマトグラフ質量分析（GC-MS） 1測定 28,100  
高分解能固体核磁気共鳴（NMR） 1測定 44,600  
高分解能液体核磁気共鳴（NMR） 1測定 15,400  
高周波誘導結合プラズマ発光分析（ICP）定性分析 1測定 15,400  
高周波誘導結合プラズマ発光分析（ICP）定量分析 1測定 5,200 定性分析のほかに定量分析を行った場合に1成分ごとに必要な金額です。
顕微ラマン分光光度計 1測定 23,900  
微小部蛍光X線分析 1測定 23,900  
顕微赤外分光光度計 1測定 11,600  
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 1測定 11,600  
熱分析装置 1測定 11,600  
簡易走査型電子顕微鏡 1測定 18,000  
デジタルマイクロスコープ 1測定 7,700  
紫外可視分光光度計 1測定 5,200  
ガスクロマトグラフ 1測定 11,600  

試料調製

区分単位金額（円）備考

集束イオンビームによる加工

 1時間 18,600  

その他の試料調製

 1試料

1,300

～34,000

 計測・分析のため、試料調整の手数料が必要な場合があります。

電気・電子試験

区分単位金額（円）備考

エミッション測定（放射、伝導）

イミュニティ試験（放射、伝導）

 1試験 28,800

 
耐ノイズ評価試験（静電気、サージ等） 1試験 11,000  

造形試験

区分単位金額（円）備考
応用試験（レーザー粉末焼結、3Dプリンター、モデリング装置） 1件 2,700～ 造形物の大きさ、材質等により手数料が異なりますので、詳細についてはご相談ください。

 

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