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依頼試験の項目・料金

※料金には消費税が含まれています。

平成28年4月1日から適用

計測分析機器

区分 単位 金額(円) 備考
透過電子顕微鏡(TEM)観察 1測定 43,800  

透過電子顕微鏡(TEM)組成分析・化学状態

1測定 15,200 観察のほかに組成分析等を行った場合にあらたに必要な金額です。 
高分解能走査電子顕微鏡(SEM)観察 1測定 27,600  

高分解能走査電子顕微鏡(SEM)組成分析・構造分析

1測定 15,200 観察のほかに組成分析等を行った場合にあらたに必要な金額です。 
走査型プローブ顕微鏡(SPM) 1測定 15,200  
電子プローブマイクロ分析(EPMA) 1測定 27,600  
オージェ電子分光(AES) 1測定 27,600  
X線光電子分光(XPS) 1測定 27,600  
二次イオン質量分析(TOF-SIMS) 1測定 43,800  
多軸X線回折(XRD) 1測定 27,600  
小角X線散乱測定(SAXS) 1測定 27,600  
マイクロフォーカスX線CT(μCT) 1測定 27,600  
波長分散型蛍光X線分析(XRF) 1測定 27,600  
マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析(MALDI-TOFMS) 1測定 27,600  
液体クロマトグラフ飛行時間型質量分析(LC-MS) 1測定 27,600  
ガスクロマトグラフ質量分析(GC-MS) 1測定 27,600  
高分解能固体核磁気共鳴(NMR) 1測定 43,800  
高分解能液体核磁気共鳴(NMR) 1測定 15,200  
高周波誘導結合プラズマ発光分析(ICP)定性分析 1測定 15,200  
高周波誘導結合プラズマ発光分析(ICP)定量分析 1測定 5,200 定性分析のほかに定量分析を行った場合に1成分ごとに必要な金額です。
顕微ラマン分光光度計 1測定 23,500  
顕微赤外分光光度計 1測定 11,400  
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 1測定 11,400  
熱分析装置 1測定 11,400  
簡易走査型電子顕微鏡 1測定 17,700  
デジタルマイクロスコープ 1測定 7,600  
紫外可視分光光度計 1測定 5,200  
ガスクロマトグラフ 1測定 11,400  

試料調製

区分 単位 金額(円) 備考

集束イオンビームによる加工

1時間 18,300  

その他の試料調製

1試料

1,300

~33,400

計測・分析のため、試料調整の手数料が必要な場合があります。 

電気・電子試験

区分 単位 金額(円) 備考

エミッション測定(放射、伝導)

イミュニティ試験(放射、伝導)  

1試験 28,300

 

耐ノイズ評価試験(静電気、サージ等) 1試験 10,800  

造形試験

区分 単位 金額(円) 備考
応用試験(レーザー粉末焼結、3Dプリンター、モデリング装置) 1件 2,700~ 造形物の大きさ、材質等により手数料が異なりますので、詳細についてはご相談ください。

 

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