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試験・分析・測定業務

活用事例

あいち産業科学技術総合センター 共同研究支援部では、 地域企業の皆様の製品開発や製造現場に
おける技術上の問題、不良品発生や破損・故障の原因究明等について職員が無料※で相談、指導に応
じています。
(※技術相談等の結果、試験機器を用いた分析等が必要な場合には、依頼試験(有料)にてご対応いたします。)

下記各事例の具体的内容についてはこちら(PDFファイル)をご覧ください。

計測分析室

  • 事例1 エンドミル刃先の成分測定 -エネルギー分散型蛍光X線(EDX)-
  • 事例2 日本酒の成分測定 -液体クロマトグラフ質量分析装置(LCMS)-
  • 事例3 半導体積層構造の観察 -透過電子顕微鏡(TEM)-
  • 事例4 樹脂の劣化解析 -核磁気共鳴(NMR)-
  • 事例5 亜鉛材料の高温測定   -X線回折装置(XRD)-
  • 事例6 薄膜表面の汚染分析 -飛行時間型二次イオン質量分析装置(TOF-SIMS)-
  • 事例7 アルミニウム酸化膜の深さ方向測定 -X線光電子分光測定装置(XPS)-
  • 事例8 ナノレベルの表面の組成分析 -オージェ電子分光測定装置(AES)-

試作評価室

  • 積層造形装置を利用した試作
  • 電波暗室・EMC試験

PDFデータ

PDFデータはこちらをご覧ください。

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